Auf der Optical Metrology treffen Führungskräfte industrieller Branchen zusammen. Die Konferenz bietet eine internationale Plattform zum Erfahrungsaustausch für Manager, Messtechniker sowie für Experten aus Technologie und Forschung zur Integration optischer Messtechnik.
Die Optical Metrology 2012 findet vom 18. bis 21. Juni 2012 statt - Die kostenlose Anmeldung für die GOM Conference 2012 ist demnächst verfügbar. www.gom-conference.com
